采用高性能面阵或线阵相机搭配高速穹顶分区光源,提取样品表面的梯度信息,突出有高度变化的缺陷特征,可以有效避免同色干扰、磨砂材质、复杂背景的影响。系统检测速度快,部署简便。
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